IMLD-B型中空玻璃露點儀(半導體式)是根據(jù)標準GB/T11944—2012規(guī)定的技術條件制造的一種儀器。

執(zhí)行標準：GB/T11944-2012《中空玻璃》關于露點測定部分

用于檢測中空玻璃試樣內表面在標準規(guī)定條件和方法情況下是否結露。

應用領域：大專院校、科研單位、中空玻璃生產、使用單位以及相關檢測單位。

IMLD-B型中空玻璃露點儀(半導體式)產品特點：

1.采用半導體三級制冷的技術，制冷的溫度可以*設定和控制，制冷速度快，操作十分方便，不僅可以在試驗室內使用，而且可在現(xiàn)場進行檢測，不需要使用容易揮發(fā)的干冰，使用方便且使用成本低廉。

2.探頭和制冷機組可實現(xiàn)完全分離，方便實用且不受試件方向限制。

3.集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統(tǒng)，實現(xiàn)全過程自動控制，機箱和探頭由軟管連接，檢測時探頭的工作面與試件接觸，探頭的工作面可以為任意方向。

4.采用pt100溫度探頭，測量精度高，數(shù)據(jù)準確。

5.溫度值控制采用微機溫控PID調節(jié)技術，控溫精度高，溫度穩(wěn)定性高。

IMLD-B型中空玻璃露點儀(半導體式)技術指標：

1.測量探頭工作溫度：-60℃～-40℃

2.測量探頭直徑：50mm

3.數(shù)顯溫度計測量范圍：-65℃~+50℃（注：測量范圍可調）

4.溫度分辨率：1℃

5.試件尺寸：510mm×360mm

6.控制箱尺寸：470mm×550mm×700mm

7.試驗環(huán)境：溫度：23℃±2℃相對濕度：30%~75%RH

8.試驗時間